静电对电子元器件的主要危害有哪些？

静电放电对人体的影响并不明显，但在电子元件的生产过程中，或在电子产品的安装（pcba加工）、调试及检验过程中却影响极大，如不消除静电，将会影响生产或降低产品质量。 尤其是半导体器件和微电子生产行业，静电放电更会引起器件失效。

主要危害有

硬击穿

人在地毯上行走、在工作台上装配调试以及操作普通材料等活动都会产生上千伏的静电。 如果静电电压聚集产生火花放电，电子元件、印刷板组件和其他电子组件会受到破坏或损坏。

软击穿

静电放电(ESD)的能量，对传统的电子元件的影响甚微，人们不易觉察，但是对这些高密度集成电路元件，不论是MOS器件，还是双极型器件都可能因静电电场和静电放电电流引起失效，或者造成难以被人们发现的“软击穿”现象，给整机留下潜在的隐患，直接影响着电子产品的质量、寿命、可靠性和经济性。

静电放电引起的元器件击穿是电子加工最普遍、最严重的静电危害。 由于环境因素或人为操作不当等造成静电放电，对电子元器件或组件的损害称为失效。 它分即时失效和延时失效。

即时失效，由于静电放电造成电子元器件自身短路、开路、功能丧失或参数不合格等，因而立即失去其工作能力。

延时失效，带电体所带静电电位或存储的静电能量较低，或静电放电时电路中有限流电阻存在。一次静电放电脉冲可能不足以引起电子元器件的完全失效，但它会在元器件内部造成轻度损伤，这种损伤具有累加性，随着所遭受的静电放电脉冲次数的增加，元器件的参数缓慢变坏，直至在某一不可预测的时刻发生失效，丧失工作能力。也就是说即使产品已经通过了所有的检验和测试，仍然有可能在送到客户手中后失效。